РНФ объявляет конкурс проектов прикладных научных исследований по направлению «Микроэлектроника»

Конкурс направлен на оказание поддержки проектам по проведению прикладных научных исследований по направлению «Микроэлектроника» в рамках технологических предложений, отобранных в результате конкурсного отбора по определению тематик исследований, разработок и опытно-конструкторских работ. Результаты конкурсного отбора технологических предложений утверждены РНФ в ноябре 2024 года (протокол правления Фонда № 22 от 28.11.2024). 

В ходе реализации проекта научные коллективы будут решать задачи квалифицированных заказчиков. Проекты должны быть направлены на получение новых знаний в целях их последующего практического применения, формирования научно-практического задела в разработке перспективных технологий в критически значимых направлениях стратегических инициатив Президента Российской Федерации в научно-технологической сфере. Результатом реализации исследования станет разработанная технология, подтвержденная изготовленным по ней прототипом изделия.

Размер каждого гранта составит до 30 миллионов рублей ежегодно.

Заявки на конкурс можно подать до 17:00 (мск) 2 июля 2025 года. Результаты конкурса будут подведены до 1 сентября 2025 года.

Конкурс проводится по семи лотам:

Лот № 1: «Разработка технологии изготовления полированных пластин фосфида галлия».

Лот № 2: «Разработка технологии изготовления отечественных светодиодных гетероструктур УФ-диапазона с длиной волны 360-380 нм».

Лот № 3: «Разработка технологии и синтез высокочистого поликристаллического антимонида индия».

Лот № 4: «Разработка промышленной рецептуры готовой керамической композиции группы МПО для изготовления тонких диэлектрических пленок, предназначенных для производства высокочастотных многослойных керамических конденсаторов поверхностного монтажа».

Лот № 5: «Разработка технологии создания полупроводниковых гетероструктур оптоэлектронной компонентной базы для волоконно-оптической системы постоянного мониторинга месторождений».

Лот № 6: «Разработка технологических процессов изготовления чипов и оптоволоконных модулей на основе полупроводниковых гетероструктур для волоконно-оптической системы постоянного мониторинга месторождений».

Лот № 7: «Исследование возможности применения и развитие технологии с проектными нормами 250 нм для серийного производства аналогов импортных микросхем с использование базовых матричных кристаллов».

***